膜厚儀的介紹
更新時(shí)間：2012-08-24 點(diǎn)擊次數(shù)：2685
膜厚儀，又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。 采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度，也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。
CM-8826 膜厚儀 技術(shù)參數(shù)：
功能： 測(cè)量導(dǎo)磁物體上的非導(dǎo)磁涂層和非磁性金屬基體上的非導(dǎo)電覆蓋層的厚度
測(cè)量方法：F 磁感應(yīng) NF 渦流
測(cè)量范圍：0～200um/500um/1000um/～15000um
分辨率：0.1/1
zui小測(cè)量面積：6mm
zui薄基底：0.3mm
自動(dòng)關(guān)機(jī)
使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH
準(zhǔn)確度：±（1～3%n）或±2um
公制/英制：可選擇
電源：4節(jié)7號(hào)電池
電池電壓指示：低電壓提示
外形尺寸：126X65X27mm
重量：81g（不含電池）
測(cè)量范圍可選：0-200um to15000um
地址：廣州市荔灣區(qū)海北裕海路265號(hào)B棟3樓
郵箱：282153509@qq.com
傳真：86-020-81509478
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